[gooddeaduser]

http://cisco.com/en/US/ts/fn/200/fn25994.html

Single event upset(SEU) failures are often caused by the following:

* Alpha particles emitted by radioactive packaging and wafer processing materials on synchronous random-access memory (SRAM) and dynamic random-access memory (DRAM) products.

* Thermal neutron from cosmic radiation of energy less then 15ev.

* Terrestrial high energy cosmic particles, neutrons, protons, pions and muons.

 

[Солнечный КОТ]

Неплохие отмазки, хрен проверишь.

 

Последние 2.

[Ruslan_R]

Они еще забыли написать про нейтрино, которые при попадании в циску пробивают ее навылет :)